企業研究 装置 / 検査・計測 ウェーハ検査、計測、リソグラフィ、歩留まりソフト
Onto Innovation
検査・計測・解析を、先端パッケージまでつなぐ
欠陥検査、光学計測、パネル／ウェーハ露光、歩留まり解析ソフトを横断する工程制御会社です。
1工程の2023年シェアから、強みと仕事を読み解きます。
求人DBの会社ID対象外。応募入口は公式採用です。 雇用法人・勤務地国・就労言語・ビザ条件は公式募集要項の比較項目です。
Onto Innovationの公式会社・製品情報と経済産業省の2023年工程別シェアを同じ表で比較します。 公開数値には開示範囲を、当サイトの見通しには不確実性を添えています。
Verified 詳細企業研究 / 出典・主張リンク確認済み ページ確認日 2026-08-03
60秒で判断
候補に残す3つの基準
光学、物理、電気電子、精密機械、材料計測、信号解析を学んだ人。
公式 6件 / IR 2件 / 採用 1件 / 第三者 1件。出典参照日 2026-08-03 / ページ確認日 2026-08-03
- 表面検査 7,952億円
01 立ち位置
何の会社として比べるか
Onto InnovationのInspection、Metrology、Yield software、Lithographyと、2023年図の表面検査を同じ表で比較します。
どの工程で、どれだけ取っているか
丸め値。 市場規模とシェアは経済産業省資料、製品範囲は各社公式ページを参照。 元データ: グローバルネット(株)「世界半導体製造装置・試験／検査装置市場年鑑2024」を基にMETIが作成。
Inspection
表面・エッジ・パッケージの欠陥を光学で検出し、歩留まり学習へ渡します。
- Dragonfly G5
- Firefly G3
- NovusEdge G2
- PrimaScan
Metrology
Atlas、Iris、IMPULSEで膜厚、CD、3D形状、材料組成、オーバーレイを測り、成膜・露光・エッチング装置の設定値へ反映します。
- Atlas G6
- Iris G2
- IMPULSE V
- Aspect
Yield software
DiscoverとStepFASTが検査・計測データを工程間で結び、欠陥分類、原因探索、露光補正へ使います。
- Discover Yield
- Discover Defect
- Discover Review
- StepFAST
Lithography
JetStep S3500とX500が大型パネルへRDLパターンを露光し、StepFASTの補正データを使ってダイ位置ずれへ追従します。
- JetStep S3500
- JetStep X500
02 収益
どこで、どれくらい事業価値を作るか
2026年Q1 売上 $291.9m、2026年Q1 純利益 $33.8mを開示区分のまま掲載し、2023年市場規模は会社業績と別欄に分けています。
市場規模と会社売上を別の比較軸として掲載しています。
03 強みとリスク・検討点
強みと、リスク・検討点
「検査・計測・露光データを工程間で使う」「G5・G6世代が先端顧客で認定された」を競争力、「Semilab統合とRigaku投資」「顧客認定と設備投資時期」を投資・応募前の検討点として比較します。
強み
Dragonfly／Fireflyの検査、Atlas／Irisの計測、JetStepの露光、Discover／StepFASTの解析と補正を先端パッケージの工程フローで連携させます。
Onto software ↗Dragonfly G5は2.5Dロジック顧客とHBM顧客で認定され、Atlas G6は2社目のロジック顧客にGAA計測用として選定されました。
Onto Q1 2026 results ↗リスク・検討点
Semilab USAの技術統合に加え、OntoはRigaku株式27%を約$710mで取得する計画です。 規制承認、取引完了、製品統合、投資回収が資本効率へ影響します。
Onto Q1 2026 results ↗04 採用条件
採用条件と公式情報
Onto Innovation Inc.の採用窓口と、光学 / 計測装置、画像・歩留まりソフト、アプリケーション / フィールドの入口を掲載します。 給与・制度の比較基準は、応募日の公式募集要項です。
- 公式の採用窓口
- 米国とアジアの開発・顧客拠点で、光学、プロセス、機械、電気、ソフトウェア、製造、品質の人材を採用します。募集職種・応募条件の基準は応募日の公式要項です。
- 公式要項の比較項目
- 比較項目は基本給、賞与・変動給、勤務時間、休日、勤務地、雇用法人です。 掲載値は公式開示値です。
- 比較単位
- Onto Innovation Inc.、親会社、海外法人の数値を比較するときは、法人名・年度・通貨・実績／予定をそろえます。
05 勤務地と職種
どこで、どんな仕事をするか
米国・ウィルミントン、日本、韓国・台湾・中国・シンガポール、イスラエルを主な採用拠点とし、光学 / 計測装置、画像・歩留まりソフト、アプリケーション / フィールドを製品群ごとに分けます。
光学 / 計測装置
照明、検出器、分光器、干渉計、精密ステージを組み合わせ、欠陥、膜厚、CD、3D形状を再現よく測る仕事。
- Optics
- Metrology
- Inspection
- Stage
画像・歩留まりソフト
欠陥画像と工程履歴を結び、分類、原因候補、歩留まり影響、次工程の補正値を計算する仕事。
- Defect
- Algorithm
- Yield
- Software
アプリケーション / フィールド
顧客ウェーハとパネルを測定し、検出感度、計測再現性、レシピ、GR&R、受入条件を量産ラインで確立する仕事。
- Application
- Recipe
- Qualification
- Service
公開求人: 求人DBの公開職種へ
公式採用情報↗06 これから
会社が次に取りにいくもの
「HBM・2.5D/3Dの検査と計測を広げる」、「装置データを歩留まりソフトへ統合する」を成長材料とし、各テーマに顧客認定・供給・投資時期の不確実性を添えています。
07 入口を選ぶ
専攻から、入口を1つに絞る
Inspectionで使う光学・画像演算・欠陥分類と、光学 / 計測装置、画像・歩留まりソフト、アプリケーション / フィールドから応募する1職種を選びます。
光学 / 計測装置
光学、物理、電気電子、精密機械、材料計測、信号解析を学んだ人。
- Optics
- Metrology
- Inspection
- Stage
画像・歩留まりソフト
画像演算、機械学習、統計、データ基盤、製造データ解析、ソフトウェア開発を経験した人。
- Defect
- Algorithm
- Yield
- Software
アプリケーション / フィールド
半導体プロセス、計測、品質工学、装置立ち上げ、顧客技術支援の経験を持つ人。
- Application
- Recipe
- Qualification
- Service
- Dragonfly G5 / Firefly G3から担当製品を1つ選ぶ
- 光量、検出S/N、分光波形、ステージ位置誤差を感度・再現性の測定値と対比する。
- 米国・ウィルミントン / 日本の募集職種と応募条件を公式要項からノートへ転記する
- Optics
- Metrology
- Inspection
- Stage
- Defect
- Algorithm
- Yield
- Software
- Application
- Recipe
Inspectionの性能指標と実務経験を結ぶための語です。
競合比較
Onto Innovationの掲載工程で競合を比較する
KLA
表面検査の2023年値はKLA 69%、Onto Innovation 4%で、差は65ポイント上です。 比較条件はMETI p.5の同じ工程分類です。
ASML
表面検査の2023年値はASML 10%、Onto Innovation 4%で、差は6ポイント上です。 比較条件はMETI p.5の同じ工程分類です。
Applied Materials
表面検査の2023年値はApplied Materials 6%、Onto Innovation 4%で、差は2ポイント上です。 比較条件はMETI p.5の同じ工程分類です。
日立ハイテク
表面検査の2023年値は日立ハイテク 4%、Onto Innovation 4%で、差は同率です。 比較条件はMETI p.5の同じ工程分類です。
出典
公式情報と第三者集計
企業の公式会社・製品・IR・採用情報と、METI p.5掲載の2023年丸め値を種別表示。 元データ: グローバルネット(株)「世界半導体製造装置・試験／検査装置市場年鑑2024」を基にMETIが作成。 参照日は2026-08-03です。
- 公式 Onto about 参照日 2026-08-03
- 公式 Onto inspection 参照日 2026-08-03
- 公式 Onto metrology 参照日 2026-08-03
- 公式 Onto software 参照日 2026-08-03
- 公式 Onto lithography 参照日 2026-08-03
- IR Onto Q1 2026 results 参照日 2026-08-03
- IR Onto Investor Relations 参照日 2026-08-03
- 採用 Onto careers 参照日 2026-08-03
- 公式 Onto locations FAQ 参照日 2026-08-03
- 第三者 経済産業省「半導体・デジタル産業戦略の現状と今後」 p.5（2023年値） 参照日 2026-08-03