企業研究 露光 / 集積回路工程 / 光学検査・計測 半導体・泛半導体装置メーカー
Shanghai Micro Electronics Equipment (SMEE)
企業研究 — 露光を軸に、接合・アニール・光学検査まで手掛ける会社
公式サイトで照会できるのは製品と仕事。
単体の売上・利益は非公開のため、金額欄は「非公開」表記です。
求人DBの会社ID対象外。応募入口は公式採用です。 雇用法人・勤務地国・就労言語・ビザ条件は公式募集要項の比較項目です。
SMEEの公式製品一覧と、具体的な職務を示す公式採用ページから製品・工程・仕事を比べます。 2026年8月10日時点でSMEE単体の財務諸表は一般公開の範囲外で、金額欄は「非公開」です。
Verified 詳細企業研究 / 出典・主張リンク確認済み ページ確認日 2026-08-10
60秒で判断
候補に残す3つの基準
光学、応用物理、精密計測の経験がある人。
公式 7件 / 採用 1件。出典参照日 2026-08-10 / ページ確認日 2026-08-10
- 露光装置 1区分
- IC工程装置 1区分
- FPD工程装置 1区分
- 光学検査・計測 1区分
01 立ち位置
何の会社として比べるか
SMEEは露光を中心に、集積回路工程、FPD工程、光学検査・計測を手掛けます。 売上構成が非公開のため、公式サイトに掲載された製品系列の数だけを可視化します。
公開系列数で製品棚を照会する
各系列の売上・出荷台数は未開示です。
02 収益
どこで、どれくらい儲けているか
SMEE単体の年次財務諸表、売上、利益、キャッシュフローは一般公開の範囲外です。 この章は「非公開」表記とし、比較可能な財務値の欠如を情報として残します。
03 強みとリスク・検討点
強みと、リスク・検討点
露光に加え、接合・アニール・検査・計測まで公開製品棚を持つ点が工程分析の入口です。 製品幅と財務規模・市場占有率は別指標です。
強み
SSB500系列はFlip Chip、Fan-In、Fan-Out WLP/PLP、2.5D/3D向けに、Bumping、RDL、TSVの露光を対象とします。
SSB500系列 先進パッケージ露光装置 ↗リスク・検討点
04 待遇
給与、初任給、休日、手当
公式求人は職務・専攻・経験・勤務地を示し、給与は面議です。 共通の初任給、賞与月数、平均年収、年間休日は外部推計の対象外です。
- 給与
- 参照した公式求人は「面議」です。 応募職種ごとの提示条件を照会します。公式求人が一次情報です。
- 職務
- システム統合開発職は測校正方案、テスト用ウエハ・マスク、誤差源シミュレーション、統合試験を担当します。
- 応募専攻
- 公式求人は光学工程、応用数学、応用物理、機電工程などを挙げます。 職種により要件は変わります。
- 勤務時間・休日
- 全社共通の所定時間、年間休日日数、交替勤務条件は公開範囲の外です。
- 賞与・昇給
- 回数、月数、昇給幅、職種別年収は共通の公式値として公開資料の記載範囲外です。
05 勤務地と職種
どこで、どんな仕事をするか
公式サイトの連絡先は上海・浦東新区張東路1525号です。 顧客向け3Rサービスを掲げるため、研究開発に加え、装置導入・保守の仕事も照会対象になります。
- 上海・張江
- 浦東新区張東路1525号/ 公式連絡先・本社
- 装置開発現場
- 光学、ステージ、制御、測校正、統合試験/ 配属部署は求人票で照会
- 顧客工場
- 装置導入、顧客訓練、技術サービス/ 出張・常駐条件は募集時に照会
- 投影光学
- 照明光学
- 精密ステージ
- アライメント
- 測校正
- 誤差モデル
- 画像演算
- 装置制御
公開求人の職務と製品構成を結び付けています。
公開求人: 求人DBの公開職種へ
公式採用情報↗06 これから
会社が次に取りにいくもの
先進パッケージ露光、ウエハ接合、光学検査・計測が公開製品から表れる照会テーマです。 将来の売上や顧客採用は予測対象外です。
- 先進パッケージ露光
- SSB500はBumping、RDL、TSVと、ウエハ・方形パネルへの対応を公開しています。 量産採用台数は非公開です。SSB500公式ページで仕様範囲を照会します。
- 接合・アニール
- 公式製品棚にはSW系列ウエハ接合とSLD系列レーザーアニールがあります。 個別製品の売上・顧客は未開示です。IC工程装置一覧が照会の起点です。
- 検査・計測
- SOI・SOL・SHM系列は欠陥、線幅、overlayを手掛けます。 競合比較は同じウエハ寸法、欠陥種、測定精度で行います。
レーザーアニールとウエハ接合
公式製品棚は露光に加え、SLD系列レーザーアニールとSW系列ウエハ接合を掲載しています。
根拠資料↗不確実性:個別仕様、量産実績、財務寄与は公開ページの未掲載項目です。
検査・計測の製品拡張
SOI500・600・800、SOL500、SHM800を、前工程と先進パッケージの検査・overlay計測へ展開します。
根拠資料↗不確実性:検出性能の比較は同じウエハ・欠陥条件での公式仕様照会が必要です。
07 入口を選ぶ
専攻から、入口を1つに絞る
公開装置の誤差・性能と、自分の設計・測定経験を軸に志望職種を絞ります。
投影光学・照明光学
露光の解像、視野、テレセントリシティ、照度、汚染対策を設計する仕事です。
- 投影光学
- 照明
- NA
- 収差
精密ステージ・機電制御
ウエハ・マスク・パネルを高精度で搬送・位置決めし、焦点と姿勢を制御します。
- ステージ
- サーボ
- 干渉計
- 振動
システム統合・測定校正
光学・ステージ・制御の要求を分解し、測校正、誤差解析、統合試験を担います。
- 測校正
- 誤差モデル
- 座標変換
- 統合試験
- SSX / SSB / SLD / SW / SOI / SOL / SHMから担当したい系列を1つ選ぶ
- 分解能・overlay・位置精度・検出率・演算時間から自分が担当した値を1つ用意する
- 公式求人で職務、専攻、勤務地、面議の雇用条件を照会する
- 投影光学
- 照明
- NA
- 収差
- アライメント
- ステージ
- サーボ
- 干渉計
- 振動
- 位置補正
露光・検査装置の誤差要因と自分の実務を結ぶ語です。
比較
他社との違いを一言で
ASML
露光装置という大分類は同じですが、公開製品棚と量産世代が異なります。 SMEEの比較軸は公開用途と仕様で、EUV・最先端ロジック装置との同等性は対象外です。
キヤノン
成熟工程・先進パッケージ向け露光で比較対象です。 ウエハ寸法、解像、overlay、生産性を同じ仕様で照会します。
ニコン
半導体とFPDの露光装置棚で重なります。 SMEEの財務は非公開で、製品用途と公開仕様を中心に比べます。
KLA
欠陥検査とCD・overlay計測で比較対象です。 SMEEのSOI・SOL・SHM系列は公開仕様の範囲で比較します。
出典
公式情報と第三者資料
会社、IR、採用、報道の種別を分けて掲載しています。 参照日は2026-08-10です。
- 公式 SMEE 公式サイト・製品一覧 SMEE official product catalog / 確認日 2026-08-10 / SMEE公式製品情報（非財務） / Products: lithography / IC process / FPD / optical inspection and metrology / zh-CN 参照日 2026-08-10
- 公式 SMEE 会社案内 参照日 2026-08-10
- 公式 SMEE 露光装置一覧 参照日 2026-08-10
- 公式 SMEE 集積回路工程装置一覧 参照日 2026-08-10
- 公式 SMEE 光学検査・計測装置一覧 参照日 2026-08-10
- 公式 SSB500系列 先進パッケージ露光装置 参照日 2026-08-10
- 公式 SOI500系列 自動光学欠陥検査装置 参照日 2026-08-10
- 採用 SMEE 採用・システム統合開発職 参照日 2026-08-10