半導体製造ラボ SEMICONDUCTOR DATA LAB

企業研究 半導体検査 / 計測 / 良率ソフトウェア 半導体品質管理装置メーカー

Skyverse Technology

企業研究 — 欠陥を見つけ、寸法を測り、良率データへつなぐ会社

FY2025売上高は20.53億元。
検査装置13.64億元・計測装置6.23億元で、研究開発比率は31.95%です。

求人DBの会社ID対象外。応募入口は公式採用です。 雇用法人・勤務地国・就労言語・ビザ条件は公式募集要項の比較項目です。

Skyverseの公式製品ページと、688361が提出したFY2025年次報告書を突き合わせ、検査・計測・良率管理ソフトを売上と職種へ結びます。

Verified 詳細企業研究 / 出典・主張リンク確認済み ページ確認日 2026-08-10

60秒で判断

候補に残す3つの基準

向いている入口 光学・光機械設計

光学、物理、精密機械、光電工学の経験がある人。

根拠と確認日出典一覧(8件)

公式 3件 / IR 4件 / 採用 1件。出典参照日 2026-08-10 / ページ確認日 2026-08-10

売上高成長率 +48.75 % FY2025 / 前年比
調整後損益 -1.23 億元 非経常項目控除後
営業CF -8.62 億元 原材料調達・研究開発で流出
FY2025 主力事業の製品別売上 上記3区分の主力事業売上合計20.00億元を100とした比率 / 年次報告書
  • 検査装置 13.64億元
  • 計測装置 6.23億元
  • ソフトウェア 0.13億元

01 立ち位置

何の会社として比べるか

Skyverseは検査装置を最大の売上区分とし、計測装置がより高い伸び率を示します。 ソフトは売上規模が小さい一方、装置データを良率改善へつなぐ役割があります。

FY2025 製品別売上

検査が大きく、計測が速く伸びる

FY2025年次報告書↗
主力事業の製品別売上億元 / FY2025
検査装置13.64億元
計測装置6.23億元
ソフトウェア0.13億元

棒は検査装置売上を100とした相対長さです。

地域

海外売上は伸びたが、絶対額は小さい

主力事業の地域別売上億元 / FY2025
中国国内19.45億元
海外0.55億元

高い伸び率と小さい絶対額を同時に照会します。

無図形・図形ウエハ光学検査

欠陥検査

無図形、三合一図形、暗視野ナノ、明視野ナノなどの光学検査で、欠陥を検出・分類します。

  • 無図形ウエハ欠陥検査
  • 三合一図形ウエハ検査
  • 暗視野ナノ図形検査
  • 明視野ナノ図形検査
公式製品情報↗
OCD / 膜厚 / Overlay / 三次元形貌

計測

回路寸法、膜厚、重ね合わせ誤差、表面形貌を非破壊で測り、プロセス条件へ反映します。

  • 光学CD計測
  • 金属・誘電膜厚計測
  • Overlay計測
  • 3D表面形貌計測
公式製品情報↗
DMS/YMS・欠陥自動分類・リソ解析

良率ソフトウェア

検査・計測装置のデータを集約し、欠陥分類と工程分析へつなぎます。

  • DMS/YMS
  • 半導体欠陥自動分類
  • リソグラフィ分析・制御
公式製品情報↗

02 収益

どこで、どれくらい儲けているか

連結純利益は黒字へ戻りましたが、非経常項目控除後は赤字です。 営業キャッシュフローも流出しており、成長投資と利益の質を分けます。

FY2025売上高

20.53億元

前年比48.75%増

FY2025年次報告書

親会社株主帰属純利益

0.59億元

FY2024の0.12億元赤字から黒字化

FY2025年次報告書

非経常項目控除後損益

-1.23億元

赤字が継続

FY2025年次報告書

研究開発投入

6.56億元

売上高比31.95%

FY2025年次報告書

連結売上高の3年推移億元 / 688361年次報告書
8.91億元FY2023
13.80億元FY2024
20.53億元FY2025

人民元建ての連結通期実績です。

03 強みとリスク・検討点

強みと、リスク・検討点

検査・計測・ソフトを一社でつなぎ、製品別売上と研究開発人員まで開示しています。 光学・画像・制御・プロセスという複数専攻の仕事へ結び付きます。

強み

検査と計測を製品別売上で追える

FY2025は検査装置13.64億元、計測装置6.23億元、ソフト0.13億元と区分して開示しています。

FY2025年次報告書 ↗
計測装置の伸びが高い

計測装置売上は前年比72.71%増で、検査装置の38.52%増を上回りました。

FY2025年次報告書 ↗
研究開発人員の厚み

研究開発人員は656人、全従業員の43.82%。 研究開発投入は6.56億元です。

FY2025年次報告書 ↗

リスク・検討点

調整後赤字が続く

親会社株主帰属純利益は黒字ですが、非経常項目控除後は1.23億元の赤字です。 利益の質を分けて比べます。

FY2025年次報告書 ↗
営業キャッシュフローの流出

FY2025の営業活動キャッシュフローは8.62億元の流出です。 会社は原材料支出、研究開発、人員拡大を理由に挙げています。

FY2025年次報告書 ↗
高い研究開発負担

研究開発投入は売上高の31.95%です。 新製品の顧客認定が遅れれば、費用と売上の時間差が広がります。

FY2025年次報告書 ↗

04 待遇

給与、初任給、休日、手当

公式キャンパス採用は職務と勤務地を詳しく載せますが、共通給与表、賞与月数、年間休日日数は公開資料の記載範囲外です。 応募する求人票ごとに条件を照会します。

応募前の一次情報
給与
公式公開ページで全職種共通の給与表は未掲載です。 選考時の求人票で照会します。公式キャンパス採用が職務照会の起点です。
募集職種
システム、光学、光機械、画像、機械学習、ソフト、アプリケーションなどを職務内容つきで掲載しています。
勤務地
深圳、北京、上海、武漢、成都など、職種ごとに候補都市が異なります。
勤務時間・休日
全社共通の所定時間、年間休日日数、交替勤務条件は公開範囲の外です。
賞与・昇給
回数、月数、昇給幅、職種別年収は公式共通値として未開示です。
Skyverse キャンパス採用↗
実際の募集を探す公式採用:Skyverse Technologyの募集職種応募先と募集条件の基準は、応募日の公式募集要項です。

05 勤務地と職種

どこで、どんな仕事をするか

本社は深圳です。 公式キャンパス採用は深圳・北京・上海を中心に、画像・アルゴリズム系で武漢・成都も勤務地に挙げます。 職種と都市を同時に比べます。

主な勤務地・拠点
深圳
龍華区観瀾・銀星科技園/ 本社・主要研究開発
北京
光学・システム・アルゴリズム等の求人勤務地/ 配属先は求人票で照会
上海
研究開発・顧客連携の求人勤務地/ 張江プロジェクトも進行
武漢・成都
画像・アルゴリズム等の求人勤務地/ 募集時点で変動
公式採用の勤務地欄↗
公式求人に出る職種
  • システム工程
  • 光学設計
  • 光機械
  • 画像アルゴリズム
  • 機械学習
  • ソフトウェア
  • アプリケーション
  • 技術支援

職務内容と学歴要件は求人ごとに異なります。

応募前の照会
  1. 検査・計測・ソフトから担当製品を1つ選ぶ
  2. 光学・画像・制御・プロセスのうち自分の測定値がある職種へ絞る
  3. 勤務地、学歴・経験要件、給与・勤務条件を求人票で照会する
公式採用へ↗

公開求人: 求人DBの公開職種へ

公式採用情報↗

公式採用の募集職種 ↗

06 これから

会社が次に取りにいくもの

ナノ図形検査、overlay計測、良率ソフトの3つが次の照会点です。 製品発表・出荷・顧客量産・売上寄与を分けて追います。

これからの材料
ナノ図形検査
暗視野ナノ図形検査などの新系列がFY2025の売上成長へ寄与しました。 製品別の売上額は非開示です。FY2025年次報告書で寄与要因を照会します。
計測の世代更新
第3世代overlay計測などの更新製品が計測装置売上の高い伸びへつながりました。 精度仕様の横比較は同じ測定対象で行います。
ソフトウェア
DMS/YMS、欠陥自動分類、リソグラフィ分析を装置データへ結びます。 継続課金比率と顧客数は公開範囲の外です。公式製品一覧で製品名を照会します。
公式情報からの見立て

ナノ図形欠陥検査の拡大

年次報告書は暗視野ナノ図形ウエハ欠陥検査などの新系列が売上成長へ寄与したと記載しています。

根拠資料↗

不確実性:顧客別採用台数と製品別売上は未開示です。

公式情報からの見立て

Overlay計測の世代更新

第3世代のoverlay計測装置が収益成長へ寄与しました。

根拠資料↗

不確実性:対象工程の詳細、顧客別の量産認定、競合との精度比較は公開範囲の外です。

公式情報からの見立て

装置データと良率ソフトの連携

公式製品棚はDMS/YMS、欠陥自動分類、リソグラフィ分析・制御を掲載しています。

根拠資料↗

不確実性:ソフト単体売上は0.13億元で、装置との契約形態や継続収入比率は未開示です。

07 入口を選ぶ

専攻から、入口を1つに絞る

欠陥を見つける、寸法を測る、データから原因を探す、のどこを担当したいかを選び、自分の測定指標へ結びます。

装置開発

光学・光機械設計

照明・結像光路、対物系、精密構造、公差を検査・計測装置へ統合します。

  • 照明光学
  • 結像
  • 公差
  • 雑光
制御・情報

画像・機械学習アルゴリズム

三次元点群から欠陥特徴量を抽出し、欠陥分類と演算高速化を担います。

  • 画像演算
  • Deep Learning
  • OpenCV
  • GPU
制御・情報

システム・制御ソフトウェア

装置要件を分解し、搬送・撮像・演算・UI・工場通信を結びます。

  • システム統合
  • C++
  • C#
  • 分散計算
応募前の3手
  1. 無図形 / ナノ図形 / OCD / 膜厚 / overlay / DMS-YMSから製品を1つ選ぶ
  2. 分解能・検出率・誤検出率・再現性・演算時間から自分が担当した数値を1つ用意する
  3. 公式採用ページで職務、勤務地、学歴・経験要件、雇用条件を対比する
公式採用へ↗
面接で使う技術語
  • 照明光学
  • 結像
  • 公差
  • 雑光
  • 光機械
  • 画像演算
  • Deep Learning
  • OpenCV
  • GPU
  • 欠陥分類

検査・計測の測定指標と自分の研究・実務を結ぶ語です。

比較

他社との違いを一言で

欠陥検査・計測・良率管理

KLA

検査、計測、良率ソフトの広い範囲で比較対象です。 Skyverseは製品別売上と研究開発負担を開示しており、製品性能の直接比較は同じ仕様で行います。

CD-SEM・欠陥レビュー・計測

Hitachi High-Tech

電子線・計測領域で比較対象です。 Skyverseの公開製品棚は光学検査・光学計測が中心のため、検出原理を分けます。

光学計測・先進パッケージ検査

Onto Innovation

OCD、overlay、先進パッケージ計測で重なります。 装置台数、地域、顧客工程を同じ範囲へそろえます。

プロセス計測

Nova

OCD・材料計測で比較対象です。 Skyverseは検査装置売上がより大きく、全社の製品構成が異なります。

参照資料一覧へ →

出典

公式情報と第三者資料

会社、IR、採用、報道の種別を分けて掲載しています。 参照日は2026-08-10です。

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