conference research / Tier b

DFTS学会研究

defect、fault tolerance、yield analysis、DFT、aging、radiation effects、hardware security を VLSI/nanotechnology systems として確認する。

IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systemsは、Memory / Reliability / Failure Physicsの観点から defect tolerance, yield analysis, DFT, aging, radiation effects, hardware security, RISC-V を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。

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基本データ

Tier B

3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。

分野 Memory / Reliability / Failure Physics

研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。

ジャンル 信頼性 / メモリ

FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。

主催 IEEE / IEEE Computer Society / TTTC

開催サイクル 2026-09-30〜10-02 / Rome, Italy

投稿締切後 / program監視

投稿形式 regular paper / special session submission

topics

研究テーマと企業調査へ変換する

coverage

defect、fault tolerance、yield analysis、DFT、aging、radiation effects、hardware security を VLSI/nanotechnology systems として確認する。

監視テーマ

defect tolerance, yield analysis, DFT, aging, radiation effects, hardware security, RISC-V

CFPから抽出する論点

欠陥・故障を設計、製造、信頼性、security にまたがって見るため、IRPS/VTS/ITC の間を埋める学会タグになる。

年次比較で残す比較軸

IEEE DFTS 2025公式CFPのregular paper、notification、camera-ready導線とIEEE conference peer review policyを根拠に、査読付きB帯専門会議に分類する。

deadlines

投稿・採択イベント

論文締切 2026-05-01