conference research / Tier a

ESREF学会研究

reliability assessment、nanoelectronics、failure analysis、power device reliability、photonics、MEMS reliability を横断できる。

European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysisは、Memory / Reliability / Failure Physicsの観点から reliability assessment, failure physics, power devices, photonics, MEMS, analysis を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。