conference research / Tier b
IIRW学会研究
device reliability、memory reliability、package reliability、power electronic reliability、failure analysis を深く追える。
IEEE International Integrated Reliability Workshopは、Memory / Reliability / Failure Physicsの観点から BTI, TDDB, RTN, memory reliability, package reliability, SiC, GaN を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。
reader evaluation
この学会をどう見るか
産業動向への有用性を先に、国際性とシリーズの継続性を別の軸で確認します。
snapshot
基本データ
3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。
研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。
FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。
regular abstract締切済み / full paper 2026-09-04締切監視
source signal dashboard
歴史と組織構成のダッシュボード
topics
研究テーマと企業調査へ変換する
coverage
device reliability、memory reliability、package reliability、power electronic reliability、failure analysis を深く追える。
監視テーマ
BTI, TDDB, RTN, memory reliability, package reliability, SiC, GaN
CFPから抽出する論点
公式Important DatesでRegular Abstract Deadline 2026年6月14日、Author Notification 2026年7月26日、Full Paper Submission Deadline 2026年9月4日、Late News Deadline 2026年9月13日、Final Paper Submission Deadline 2026年9月21日を確認した。
年次比較で残す比較軸
IRPS と合わせると、量産 qualification から failure physics までどの階層で評価が進んでいるかを分けて追える。
deadlines
投稿・採択イベント
regular abstract締切済み / full paper 2026-09-04締切監視
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related pages
関連ページ
研究室DBの学会発表実績タグは、公式業績・program・researchmap/KAKEN成果などで実際の発表が確認できた場合だけ表示します。候補・近接テーマだけでは接続しません。
sources
公式確認リンク
- 公式 公式ページ 確認日: 2026-06-15