conference research / Tier b

EOS/ESD Symposium学会研究

EOS / ESD、backside power、2.5D / 3D stacking、WBG ESD、package handling、manufacturing control を failure prevention 側から追える。

EOS/ESD Symposium and Exhibitsは、Memory / Reliability / Failure Physicsの観点から EOS, ESD, backside power, 2.5D/3D stacking, WBG ESD, package handling, manufacturing control を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。

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基本データ

Tier B

3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。

分野 Memory / Reliability / Failure Physics

研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。

ジャンル 信頼性 / メモリ

FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。

主催 EOS/ESD Association, Inc.

開催サイクル 2026-09-28〜30 / Embassy Suites by Hilton Dallas Frisco Hotel & Convention Center, Frisco, Texas, US

会期前 / program監視

投稿形式 2-4 page abstract + 6-10 page final manuscript

topics

研究テーマと企業調査へ変換する

coverage

EOS / ESD、backside power、2.5D / 3D stacking、WBG ESD、package handling、manufacturing control を failure prevention 側から追える。

監視テーマ

EOS, ESD, backside power, 2.5D/3D stacking, WBG ESD, package handling, manufacturing control

CFPから抽出する論点

先端ノードや 3D 実装で難しくなる ESD / EOS を正面から見るため、reliability と design rule の接点を抽出できる。

年次比較で残す比較軸

IRPS や IPFA が故障解析寄りなのに対し、こちらは予防・設計・試験・製造管理まで含めて EOS/ESD を追える。

deadlines

投稿・採択イベント

要旨締切 2026-02-06