conference research / Tier b

ETS学会研究

Circuit and system test, DFT, validation, reliability, yield, safety, security, ATE, chiplet, and post-silicon debug research.

IEEE European Test Symposiumは、回路 / システム / 設計自動化の観点から DFT, ATE, validation, yield, reliability, hardware security, chiplet test, silicon lifecycle management を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。

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基本データ

Tier B

3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。

分野 回路 / システム / 設計自動化

研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。

ジャンル 回路 / 設計 / 信頼性 / メモリ

FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。

主催 Tallinn University of Technology (TalTech) / Testonica

開催サイクル 2025-05-26 to 2025-05-30 / Tallinn, Estonia

2025 cycle finished / official committee, technical program, sponsor, and series-history sources checked

投稿形式 Regular research papers, industrial papers, special sessions, tutorials, panels, and formal IEEE Xplore proceedings. Reviewed graph data is hydrated from PostgreSQL researchVisualSignals.

topics

研究テーマと企業調査へ変換する

coverage

Circuit and system test, DFT, validation, reliability, yield, safety, security, ATE, chiplet, and post-silicon debug research.

監視テーマ

DFT, ATE, validation, yield, reliability, hardware security, chiplet test, silicon lifecycle management

CFPから抽出する論点

Official ETS'25 sources identify the completed May 26-30 Tallinn cycle, committee, technical program, corporate supporters, technical sponsors, and annual series history.

年次比較で残す比較軸

The official ETS series page states the annual symposium was first organized in 1996 and lists ETS'25 in Tallinn plus ETS'26 in Crete.

deadlines

投稿・採択イベント

締切日付は未取得です。募集要項ページで最新サイクルを確認してください。

公式確認リンク

公式公式ページ確認日: 2026-07-15
募集要項募集要項 / CFP 確認日: 2026-07-15
program program 確認日: 2026-07-15
proceedings proceedings 確認日: 2026-07-15