conference research / Tier a

IPFA学会研究

physical failure analysis、memory reliability、package-level FA、ESD、hardware security、advanced diagnostics を追える。

IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuitsは、Memory / Reliability / Failure Physicsの観点から failure analysis, memory reliability, package FA, ESD, hardware security, diagnostics を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。