半導体製造ラボ

conference research / Tier b

IWJT学会研究

junction formation、implantation、anneal、activation、defect、ultra-shallow junction の論点を集中的に追える。

International Workshop on Junction Technologyは、ロジック / デバイス / プロセス統合の観点から junction formation, implantation, anneal, activation, defects, ultra-shallow junction を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。

snapshot

基本データ

Tier B

3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。

分野 ロジック / デバイス / プロセス統合

研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。

ジャンル FEOL / デバイス

FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。

主催 CEA-Leti / IWJT Committee
開催サイクル 2026-09-28〜29 / Grenoble, France

投稿募集中

投稿形式 abstract submission + oral/poster presentation

topics

研究テーマと企業調査へ変換する

coverage

junction formation、implantation、anneal、activation、defect、ultra-shallow junction の論点を集中的に追える。

監視テーマ

junction formation, implantation, anneal, activation, defects, ultra-shallow junction

CFPから抽出する論点

junction 技術に絞っているため、source/drain や contact 前後のドーピング課題を会議単位で比較しやすい。

年次比較で残す比較軸

SSDM や IEDM では埋もれやすい junction 形成論点を切り出して見られる希少な観測点です。

deadlines

投稿・採択イベント

要旨締切 2026-05-31

投稿募集中

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研究室DBの学会発表実績タグは、公式業績・program・researchmap/KAKEN成果などで実際の発表が確認できた場合だけ表示します。候補・近接テーマだけでは接続しません。

sources

公式確認リンク