conference research / Tier b

SISC学会研究

semiconductor / insulator interfaces、thin films、gate dielectrics、ferroelectric devices、wide-bandgap devices、reliability、BEOL oxide transistors、advanced packaging interfacesを横断して追う会議です。

IEEE Semiconductor Interface Specialists Conferenceは、ロジック / デバイス / プロセス統合の観点から semiconductor interfaces、gate dielectrics、high-k、ferroelectric devices、reliability、SiC、GaN、2D channels、BEOL oxide semiconductors を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。