半導体製造ラボ

ウェーハテスト

デバイス評価・特性測定

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ウェーハテストに属する「デバイス評価・特性測定」の処理、装置、工程条件、品質管理を扱う分類です。

この工程で何をするか

  • デバイス評価・特性測定の工程条件・装置条件を設計する
  • 処理結果を測定し、量産品質と歩留まりを管理する

代表的な装置・設備

  • デバイス評価・特性測定関連装置
  • 工程計測・評価設備

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デバイス評価・特性測定device evaluation

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