半導体製造ラボ

conference research / Tier s

DATE学会研究

EDA、electronic systems design、test、embedded software、open-source EDA、AI活用設計を欧州軸で広く追える。

Design, Automation and Test in Europe Conferenceは、回路 / システム / 設計自動化の観点から EDA, test, embedded systems, hardware-software co-design, open-source EDA, AI for design を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。

snapshot

基本データ

Tier S

3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。

分野 回路 / システム / 設計自動化

研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。

ジャンル 回路 / 設計

FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。

主催 EDAA / ACM SIGDA / IEEE CEDA
開催サイクル 2027-03-22〜24 / Dresden, Germany

2027 CFP公開 / paper registration・final submission監視

開始年 First proceedings 1998

bibliographic_confirmed / first_proceedings_year

投稿形式 abstract + full manuscript + camera-ready + video presentation

topics

研究テーマと企業調査へ変換する

coverage

EDA、electronic systems design、test、embedded software、open-source EDA、AI活用設計を欧州軸で広く追える。

監視テーマ

EDA, test, embedded systems, hardware-software co-design, open-source EDA, AI for design

CFPから抽出する論点

2027 CFPはtitle / abstract / co-authors登録を2026年9月13日AoE、final paper submissionを2026年9月20日AoEと案内している。

年次比較で残す比較軸

DAC / ICCAD と並べると、欧州側で強い test、embedded、open-source EDA の流れを切り出しやすい。

deadlines

投稿・採択イベント

要旨締切 2026-09-13

2027 CFP公開 / paper registration・final submission監視

論文締切 2026-09-20

2027 CFP公開 / paper registration・final submission監視

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研究室DBの学会発表実績タグは、公式業績・program・researchmap/KAKEN成果などで実際の発表が確認できた場合だけ表示します。候補・近接テーマだけでは接続しません。

sources

公式確認リンク