conference research / Tier s
ITC学会研究
electronic test、DFT、ATE、probe card、AI chip test、3D/2.5D、diagnosis、yield analysis を製品ライフサイクルで確認する。
International Test Conferenceは、Memory / Reliability / Failure Physicsの観点から DFT, ATE, probe card, AI chip test, diagnosis, yield, silicon debug, 3D/2.5D を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。
reader evaluation
この学会をどう見るか
産業動向への有用性を先に、国際性とシリーズの継続性を別の軸で確認します。
snapshot
基本データ
3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。
研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。
FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。
採択通知済み / program監視
source signal dashboard
歴史と組織構成のダッシュボード
topics
研究テーマと企業調査へ変換する
coverage
electronic test、DFT、ATE、probe card、AI chip test、3D/2.5D、diagnosis、yield analysis を製品ライフサイクルで確認する。
監視テーマ
DFT, ATE, probe card, AI chip test, diagnosis, yield, silicon debug, 3D/2.5D
CFPから抽出する論点
AI/HPC と shared silicon challenges の test track があり、検査・計測・ATE 企業の採用テーマへ接続しやすい。
年次比較で残す比較軸
VTS より製品/産業寄りの test week として、歩留まり、診断、テストコスト、量産品質を追跡する入口。
deadlines
投稿・採択イベント
採択通知済み / program監視
採択通知済み / program監視
related pages
関連ページ
研究室DBの学会発表実績タグは、公式業績・program・researchmap/KAKEN成果などで実際の発表が確認できた場合だけ表示します。候補・近接テーマだけでは接続しません。
sources
公式確認リンク
- 公式 公式ページ 確認日: 2026-05-30
- 募集要項 募集要項 / CFP 確認日: 2026-05-30