conference research / Tier a

ATS学会研究

IC testing, design-for-test, reliability, memory test, chiplet/3D IC test, silicon lifecycle management, hardware security, and AI for testをアジア太平洋軸で確認できる。

IEEE Asian Test Symposiumは、回路 / システム / 設計自動化の観点から design-for-test, IC testing, chiplet test, 3D IC test, memory test, reliability, silicon lifecycle management, AI for test, hardware security を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。