半導体製造ラボ

conference research / Tier a

ASMC学会研究

量産プロセス、process control、yield、factory operation を主題にするpeer-reviewed technical manufacturing conferenceで、Fab実務の国際主要会議として確認します。

SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conferenceは、露光 / パターニング / 配線 / 量産の観点から APC、advanced patterning、metrology、smart manufacturing、yield enhancement、wafer level packaging を確認するための学会です。公式ページ、募集要項、program、proceedings を分けて確認し、研究室DBや求人DBの分類軸へ接続します。

snapshot

基本データ

Tier A

3大国際会議以外の主要学会として、分野別に確認する。

分野 露光 / パターニング / 配線 / 量産

研究室DBと技術レーダーのfield接続に使う。

ジャンル BEOL / 配線・製造

FEOL、BEOL、3DI、回路、WBG、フォトニクス、信頼性へ接続する。

開催サイクル 2026-05-11〜14 / Hilton Albany, Albany, New York, US

会期前 / program監視

投稿形式 abstract submission + draft manuscript + final manuscript

topics

研究テーマと企業調査へ変換する

coverage

量産プロセス、process control、yield、factory operation を主題にするpeer-reviewed technical manufacturing conferenceで、Fab実務の国際主要会議として確認します。

監視テーマ

APC、advanced patterning、metrology、smart manufacturing、yield enhancement、wafer level packaging

CFPから抽出する論点

abstract から final manuscript まで author kit が細かく出ており、Breaking News 枠もあるので量産寄りの更新点を拾いやすい会議です。

年次比較で残す比較軸

SEMI公式がleading international technical conferenceかつTechnical Committee peer reviewを示すため、純学術旗艦ではないがindustry manufacturing A、つまり製造・量産・Fab実務のA帯に分類します。

deadlines

投稿・採択イベント

要旨締切 2025-10-31

会期前 / program監視

採択通知 2025-12-15

会期前 / program監視

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関連ページ

研究室DBの学会発表実績タグは、公式業績・program・researchmap/KAKEN成果などで実際の発表が確認できた場合だけ表示します。候補・近接テーマだけでは接続しません。

sources

公式確認リンク