コンテンツにスキップ

SiCウェハ(炭化ケイ素基板)とは

SiCウェハとは、SiC(炭化ケイ素)で作ったウェハです。 東京エレクトロンの公式用語集は、SiCをケイ素と炭素からなる化合物半導体材料と記述しています。

シリコンは優れた材料ですが、高い電圧を扱う用途では限界があります。ある電界を超えると絶縁が破れて電流が流れてしまうため、耐圧を上げるには層を厚くする必要があり、その分だけ抵抗が増えて損失になります。

SiCはこの制約を緩めます。東京エレクトロンの公式用語集は、SiCの絶縁破壊電界強度がシリコンの10倍であること、バンドギャップが3倍広いことを述べています。同じ耐圧をより薄い層で実現できるため、抵抗が下がり、損失が減ります。バンドギャップが広いことは、高温でも半導体として振る舞いやすいことも意味します。

したがってSiCは、電気自動車のインバータ、電源、産業機器といった高い電圧と大きな電流を扱う用途で選ばれます。同じ性能をより小さく、損失を抑えて実現できます。

SiC と Si ─ 材料の差が構造の差になる
シリコン電極厚い層が要る抵抗が大きい耐圧を上げるほど損失が増えるSiC薄い層で足りる抵抗が小さい絶縁破壊電界強度:Siの10倍バンドギャップ:Siの3倍広い同じ耐圧を、より薄く・低損失で
絶縁破壊電界強度がシリコンの10倍あるため、同じ耐圧をより薄い層で実現できます。層が薄いほど抵抗が下がり、損失が減ります。バンドギャップが3倍広いことは、高温での動作しやすさにもつながります。

材料としての強みは、加工の難しさと表裏です。SiCはシリコンより硬いため、切断に時間がかかり、工具の消耗も大きくなります。研磨も同様で、ウェハ1枚あたりの加工費用がシリコンより高くなります。SiCウェハが高価である理由の1つです。

イオン注入の条件も変わります。常温で打ち込むと結晶の損傷が回復しにくいため、加熱しながら打ち込みます。日新イオン機器は公式ページで、IMPHEAT-IIがウェーハ温度最大500℃であること、アルミニウムイオンの注入に対応すること、パワーデバイス用途向けの設計であることを述べています。

強みの裏で、工程ごとに条件が変わります
材料としての強みは、加工の難しさと表裏ですシリコンより硬いです切断に時間がかかります常温で打ち込むと結晶の損傷が回復しにくいです切断注入工具の消耗が大きくなります研磨も同様です加熱しながら打ち込みます日新イオン機器の公式ページ:IMPHEAT-IIはウェーハ温度最大500℃ですウェハ1枚あたりの加工費用がシリコンより高くなりますSiCウェハが高価な理由の1つです
材料としての強みは、加工の難しさと表裏です。硬さは切断の時間と工具の消耗になり、常温では結晶の損傷が回復しにくいことは加熱しながらの注入になります。その分だけ、ウェハ1枚あたりの加工費用がシリコンより高くなります。

検査も専用になります。SiC固有の結晶欠陥を見つける必要があるためです。レーザーテックは公式ページで、SiCウェーハ検査およびレビューシステムのSICA108とSICA88を掲載しています。

SiCウェハとは何ですか?

SiC(炭化ケイ素)で作ったウェハです。東京エレクトロンの公式用語集は、SiCウェーハをケイ素と炭素からなる化合物半導体材料SiCで作られたウェーハと記述しています。

シリコンと比べて何が優れていますか?

東京エレクトロンの公式用語集は、SiCの絶縁破壊電界強度がシリコンの10倍であること、バンドギャップが3倍広いことを述べています。高い電圧に耐え、高温でも動作しやすい材料です。

どこで使いますか?

パワー半導体が中心です。電気自動車のインバータ、電源、産業機器など、高い電圧と大きな電流を扱う用途で選ばれます。同じ性能をより小さく、損失を抑えて実現できます。

加工は何が難しいのですか?

硬いことです。シリコンより硬いため、切断に時間がかかり、工具の消耗も大きくなります。研磨も同様で、ウェハ1枚あたりの加工費用がシリコンより高くなります。

イオン注入も違いますか?

高温で行う必要があります。常温で打ち込むと結晶の損傷が回復しにくいためです。日新イオン機器は公式ページで、IMPHEAT-IIがウェーハ温度最大500℃、アルミニウムイオン注入に対応し、パワーデバイス用途向けであることを述べています。

検査も専用ですか?

専用の装置があります。レーザーテックは公式ページで、SiCウェーハ検査およびレビューシステムのSICA108とSICA88を掲載しています。SiC固有の結晶欠陥を見つける必要があるためです。

この記事の事実は次の一次資料を根拠とし、各URLの到達可否をこちらで実測しています。したがって、リンク先が移動または消滅した場合は、その旨をこのページへ反映します。

  • 東京エレクトロン 公式用語集「SiC Wafer」(2026年8月22日にリンク生存を実測、200)
  • レーザーテック「半導体関連製品」公式ページ(2026年8月22日にリンク生存を実測、200)
  • 日新イオン機器「Ion Implantation Services」公式ページ(2026年8月22日にリンク生存を実測、200)
回答待ち 更新中 公開Q&A

このページの質問窓口

AIに疑問を送る

「匿名で送信する」を押して内容を送ると、受付ID付きの回答URLを発行します。URLでは進捗を追うことができ、通常は1日以内に回答します。個人情報を取り除いて編集した質問と回答だけを、承認済み資料の出典リンクとともに公開Q&A一覧へ掲載します。

通常、1日以内に回答します 回答待ち 更新中

  1. 匿名で送る 分かりにくい箇所、指摘、追加してほしい内容を書きます。
  2. 受付IDと回答URLを保存する 送信後に発行されるURLへ、進捗が順次反映されます。
  3. 進捗と回答を追う URLには、受付済み、回答作成中、解決済みの状態と回答が載ります。
公開Q&A一覧へ 5〜4,000文字。氏名・連絡先などの個人情報、秘密情報は入力禁止です。

このフォームは匿名です。氏名・連絡先・応募情報などの個人情報、秘密情報、社外秘情報、契約情報、非公開資料の入力は禁止です。投稿原文は運営用DBに保存し、公開面には、個人情報・秘密情報・危険な命令を除く安全審査と読みやすい文章への編集を経た質問文と回答だけを載せます。状態は「受付済み」「回答作成中」「解決済み」の3段階です。安全審査の結果によっては公開を保留します。サイト側の機械検査を通った内容だけを運営側のAI回答作成環境へ送り、回答案の作成と、それとは独立したAI審査に使います。機械検査には見落としの可能性があり、回答作成と審査の履歴は利用中の環境に保持されます。IPアドレスや端末情報は送信対象外です。回答URLは公開Q&A用で、共有先からも開けます。送信により、この利用条件と審査後のQ&A公開に同意したものとします。