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半導体技術記事DB

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21
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125
最終更新
2026/07/17

20 / 21件を表示。出典リンク 125件。

会社 記事 工程 公式source 操作
会社未設定 公式ニュース

市場背景

半導体技術記事DB

市場背景technology-trend-radarSEMISIAWSTSimecApplied MaterialsKioxia
工程 technology-trend-radar
source link 12件 更新 2026/07/04
会社未設定 公式技術記事

工程技術解説

洗浄・表面前処理・再汚染管理

工程技術解説cleaningApplied MaterialsEV GroupSCREEN Semiconductor SolutionsTokyo ElectronSingle-wafer cleaningSurface activation and cleaning
工程 cleaning
source link 6件 更新 2026/07/01
会社未設定 公式技術記事

工程技術解説

熱処理・アニールと thermal budget

工程技術解説annealApplied MaterialsSCREEN Semiconductor SolutionsTokyo ElectronimecLaser annealRapid thermal processing
工程 anneal
source link 6件 更新 2026/07/01

Source Update

2026年7月の公式source更新

Kioxia BiCS10、HBM / AI package、High-NA、market signalは、sample、production、forecast、actual sales、actual billingsを分けて記事候補へ回します。

Memory / NAND

vendor_sample_shipment

Kioxia 10th-gen BiCS 1Tb TLC sample shipment
owner
Kioxia
published
2026-07-03
lane
reliability-memory

1Tb TLC 3D flash memory sample shipment。Kitakami Fab2設備、CBA、OPS、332 layers、4.8Gb/s NAND interface、bit density +59%を分けて記録する。

sample shipmentであり、量産開始や顧客採用とは分ける。

KioxiaBiCS103D NANDsample shipmentKitakami Fab2

production_start_announced

Kioxia and Sandisk 10th-gen 3D flash production start at Fab2
owner
Kioxia / Sandisk
published
2026-07-03
lane
reliability-memory

Kitakami Plant Fab2で10th-gen 3D flash生産開始を発表。sample shipmentとは別recordに分け、Fab2、joint venture、3D flash世代をタグ化する。

capacity ramp、歩留まり、顧客別出荷量はsource外。

KioxiaSandisk3D NANDproduction_start_announcedKitakami Fab2

Market signal

forecast_not_actual

WSTS Spring 2026 forecast
owner
WSTS
published
2026-06-03
lane
market-signal

2026年半導体市場をUSD 1.51T、前年比+90%とするforecast。memoryは約+250%、USD 800B超として市場前提に使う。

forecastであり、月次sales実績とは分ける。

WSTSforecast_not_actualmemorymarket_signal

actual_monthly_sales

SIA April 2026 global semiconductor sales
owner
SIA
published
2026-06-05
lane
market-signal

2026年4月のglobal semiconductor salesはUSD 110.5B、前月比+11.0%、前年比+93.9%。forecastとは別にactual salesとして記録する。

WSTS three-month moving averageの月次salesであり、装置投資額ではない。

SIAactual_monthly_salesmarket_signal

Equipment spending

equipment_spending_forecast

SEMI 300mm fab equipment spending forecast
owner
SEMI
published
2026-04-01
lane
market-signal

300mm fab equipment spendingを2026年USD 133B、2027年USD 151Bとするforecast。logic/microとmemoryの投資前提を分ける。

forecastであり、actual billingsとは別record。

SEMIequipment_spending_forecast300mmmarket_signal

memory_equipment_forecast

SEMI 300mm memory equipment investment forecast
owner
SEMI
published
2026-06-29
lane
market-signal

2026年の300mm memory equipment investmentをUSD 52B、2027年をUSD 57Bとするforecast。DRAMと3D NANDを分ける。

memory segmentのforecastであり、企業別capexではない。

SEMImemory_equipment_forecastDRAM3D NANDmarket_signal

Equipment billings

actual_equipment_billing

SEMI Q1 2026 equipment billings
owner
SEMI
published
2026-06-04
lane
market-signal

2026年Q1 global semiconductor equipment billingsはUSD 36.55B、前年比+14%、前期比+1%。forecastではなくactual billingsとして記録する。

quarterly billingsであり、fab spending forecastとは別record。

SEMIactual_equipment_billingmarket_signal

HBM / AI package

vendor_sample_shipment

Samsung HBM4E 12H sample shipment
owner
Samsung Electronics
published
2026-05-29
lane
hbm-ai-package-scaling

12-layer HBM4E samples、48GB、14Gbps stable、最大16Gbps scalable、3.6TB/s per stack、4nm logic base dieを記録する。

sample shipmentであり、mass production timingは顧客schedule次第。

Samsung ElectronicsHBM4Esample shipmentAI package

high_volume_production

Micron HBM4 high-volume production for NVIDIA Vera Rubin
owner
Micron
published
2026-03-16
lane
hbm-ai-package-scaling

36GB 12H HBM4のhigh-volume productionとNVIDIA Vera Rubin platform向けvolume shipmentを記録する。48GB 16H samplesとは別に残す。

product program sourceであり、最終customer system出荷数ではない。

MicronHBM4high_volume_productionNVIDIA Vera Rubin

technology_roadmap

TSMC 2026 Technology Symposium CoWoS scaling
owner
TSMC
published
2026-04-23
lane
hbm-ai-package-scaling

5.5-reticle CoWoS production、2028年14-reticle CoWoS計画、約10 large compute diesと20 HBM stacksのpackage scalingを記録する。

roadmap statementであり、customer別product launchではない。

TSMCCoWoSSoICHBMAI package

High-NA / metrology

rd_qualification_plan

imec EXE:5200 High-NA EUV qualification plan
owner
imec
published
2026-03-18
lane
patterning-high-na

ASML EXE:5200 High-NA EUV systemをimec cleanroomへ導入。Q4 2026までのqualification planとして記録する。

R&D qualification planであり、HVM layer adoptionとは分ける。

imecHigh-NA EUVEXE:5200rd_qualification_plan

equipment_spec

Applied Materials PROVision 10 launch date correction
owner
Applied Materials
published
2025-10-07
lane
patterning-high-na

PROVision 10は2025-10-07発表。GAA、backside power、next-gen DRAM、3D NAND、HBM integration向けthrough-layer eBeam metrologyとして記録する。

equipment spec launchであり、2026年発表ではない。

Applied MaterialsPROVision 10through-layer metrologyequipment_spec

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技術記事のテーマ

発表種別、企業、技術テーマ、関連ページの切り口で記事を探せます。

発表種別

プレスリリース公式ニュースIR決算発表適時開示製品発表設備投資量産開始生産開始発表sample shipment共同開発展示会発表市場forecast月次salesequipment billings

企業

Tokyo ElectronApplied MaterialsLam ResearchSCREENAdvantestDISCOLasertecKOKUSAI ELECTRICRenesasROHMSUMCOShin-Etsu ChemicalResonacIbidenKioxiaSandiskSamsung ElectronicsMicronTSMCSEMISIAWSTSimecRapidusJASM / TSMC JapanSony Semiconductor SolutionsMitsubishi Electric

技術テーマ

GAACFETBackside PowerHigh-NA EUVレジストBEOLHybrid BondingChipletHBMHBM4HBM4ECoWoSSoIC3D NANDBiCS1010th-gen BiCSKitakami Fab2CBAOPSthrough-layer metrologyエッチングSiCGaNメモリ信頼性検査計測

DB接続先

企業DB製品群DB装置カタログ工程DB求人DB職種辞書研究室DB学会記事トレンド拠点マップ

source quality

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Article Lanes

技術テーマ別の記事棚

既存の技術テーマは記事棚に分類します。企業発表、学会記事、求人、研究室、装置ページを同じ棚へリンクします。

logic-roadmap

GAA / CFET / BSPDN

先端ロジックの構造変更、MOL、背面電源配線をまとめて比較するテーマです。

記事化する発表軸
foundry / IDMのロードマップ、量産技術、製品世代の発表日と対象技術を分ける
接続するDB
会社、求人、装置・材料、基礎解説を工程の流れで比較する
職種・研究室
デバイスR&D、プロセス統合、測定技術。研究室候補 3523件、学会候補 4件。
GAA / CFET / BSPDNFEOLからMOL、BEOL電源配線までの接続条件デバイスR&D、プロセス統合、測定技術IEDMVLSISSDM

patterning-high-na

High-NA EUV / resist / metrology

露光装置だけでなく、mask、resist、etch、metrology の連結条件を追跡するテーマです。

記事化する発表軸
装置spec、R&D導入、量産適用層を分ける
接続するDB
装置カタログ、工程別装置share、リソグラフィ/計測職種を対応づける
職種・研究室
リソグラフィ、プロセス計測、装置アプリケーション。研究室候補 3185件、学会候補 4件。
High-NA EUV / resist / metrology露光、レジスト、エッチング、overlay、欠陥検査リソグラフィ、プロセス計測、装置アプリケーションSPIE ALPASMCEIPBN

interconnect-backside

BEOL / MOL / new conductor

配線抵抗、barrier / liner、低k材料、backside contact の上限要因を同じ表で比較するテーマです。

記事化する発表軸
材料、成膜、CMP、検査装置の発表日と対象工程を分ける
接続するDB
製品群、装置、材料/プロセス職種を配線テーマで比較する
職種・研究室
配線インテグレーション、材料、プロセス開発。研究室候補 2679件、学会候補 4件。
BEOL / MOL / new conductorMOL接続、BEOL配線、backside contact、電源配線配線インテグレーション、材料、プロセス開発IITCASMCIEDM

advanced-packaging

chiplet / hybrid bonding / thermal

chiplet、hybrid bonding、temporary bond / debond、thermal reliability をまとめて比較するテーマです。

記事化する発表軸
OSAT、材料、装置、IDMの先端パッケージ投資や技術発表を分ける
接続するDB
国内拠点、求人、装置カタログ、企業製品群を後工程テーマで比較する
職種・研究室
実装プロセス、パッケージ開発、信頼性試験。研究室候補 2973件、学会候補 4件。
chiplet / hybrid bonding / thermal後工程、3D実装、接合、薄化、熱設計、検査実装プロセス、パッケージ開発、信頼性試験ECTC3DICITherm

hbm-ai-package-scaling

HBM / AI package scaling

HBM stack、CoWoS面積、logic base die、through-layer metrology、memory capex を分けて比較するテーマです。

記事化する発表軸
Samsung、Micron、TSMC、SEMI、WSTSの量産、sample、capex、forecastを分ける
接続するDB
メモリ会社、foundry、装置、工程、AI package関連記事を対応づける
職種・研究室
メモリ設計、先端実装、熱設計、パッケージ計測。研究室候補 3378件、学会候補 5件。
HBM / AI package scalingHBM、logic base die、CoWoS、SoIC、through-layer計測、AI accelerator packageメモリ設計、先端実装、熱設計、パッケージ計測ECTC3DICITherm

wide-bandgap-power

SiC / GaN / Ga2O3 / diamond power

材料、デバイス構造、module packaging、converter適用を分けて比較するテーマです。

記事化する発表軸
素材、デバイス、モジュール、設備投資の発表日と対象技術を分ける
接続するDB
会社分類、拠点、パワー/材料職種、研究室テーマを対応づける
職種・研究室
パワーデバイス、材料、測定、モジュール設計。研究室候補 2670件、学会候補 5件。
SiC / GaN / Ga2O3 / diamond power結晶成長、エピ、デバイス構造、モジュール実装、熱設計パワーデバイス、材料、測定、モジュール設計ISPSDICSCRMPCIM

reliability-memory

memory / reliability / failure analysis

memory architecture、aging、qualification、failure analysis、test をまとめて比較するテーマです。

記事化する発表軸
メモリ、テスト、品質、解析サービスの発表日と対象技術を分ける
接続するDB
品質/テスト職種、装置カテゴリ、研究室テーマを信頼性テーマで比較する
職種・研究室
信頼性、品質、テスト、failure analysis。研究室候補 1993件、学会候補 5件。
memory / reliability / failure analysisDRAM / NAND、信頼性試験、故障解析、テスト、screening信頼性、品質、テスト、failure analysisIRPSIMWIPFA

このページの技術テーマ候補は、学会・研究室・求人・装置DBの既存接続を互換のために残しています。ページ更新日は 2026-07-04、source DB checkedAt は 2026-07-02、学会DB lastVerified は 2026-05-30 です。